| A dolgozat benyújtója | Agócs Emil |
| Cím magyarul: | Szilícium alapú nanokristályos szerkezetek minősítése spektroszkópiai ellipszometriával |
| Cím angolul: | Qualifications of Si-based nanocrystalline structures by spectroscopic ellipsometry |
| Tézis magyarul | Tézis angolul
|
| Doktori iskola megnevezése: | Molekuláris és Nanotechnológiák Doktori Iskola |
| Témavezető: | Dr. Petrik Péter
|
| Opponensi vélemény: | Dr. Koós Margit bírálata |
| Opponensi vélemény: | Dr. Tóth Zsolt bírálata |
| Válasz az opponensi véleményre: | Válasz dr. Koós Margit bírálatára |
| Válasz az opponensi véleményre: | Válasz dr. Tóth Zsolt bírálatára |
| DOI azonosító: | 10.18136/PE.2014.560 |
